Информация об авторе

Альфорд Т.


Библиография книг автора

Фундаментальные основы анализа нанопленок Альфорд Т. Майер Д. Фельдман Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей....
от 889 руб.