Альфорд Т.
|
Библиография книг автора
Альфорд Т.
Майер Д.
Фельдман Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей....
|
от 889 руб. |