Информация о книге

978-5-91522-225-9

Главная » Научно-техническая литература » Математика. Естественные науки » Физика » Оптика » Фундаментальные основы анализа нанопленок

Альфорд Т., Майер Д., Фельдман Л., Фундаментальные основы анализа нанопленок

серия: Фундаментальные основы нанотехнологий. Лучшие зарубежные учебники
Научный мир, 2012 г., 392 стр., 978-5-91522-225-9

Наличие в интернет-магазинах

Магазинов: 3, Цена: от 889 руб. посмотреть все

Описание книги

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к...

Купить эту книгу можно в интернет-магазинах

Буквоед - 889 руб. Читай-Город - 889 руб.

Страница товара выбранного интернет-магазина откроется в новом табе

Поделиться ссылкой на книгу

Об авторе

Альфорд Т.

Майер Д.

Фельдман Л.

Последние поступления в рубрике "Оптика"

	Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия. Учебное пособие для бакалавриата и магистратуры Гужов В.И. Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и......
	Оптика. Полный курс Саржевский А.М. Настоящая книга включает в себя практически все вопросы программы обучения по разделу \\\"Оптика\\\"....
	Оптика. Учебное пособие Годжаев Н. Пособие \\\"Оптика\\\" написано в соответствии с программой курса общей физики (раздел \\\"Оптика\\\") для физических факультетов вузов. Кроме традиционных разделов в нем отражены крупные достижения в оптике (оптические квантовые генераторы, элементы нелинейной оптики, голография), происшедшие за последние двадцать лет....

Если Вы задавались вопросами "где найти книгу в интернете?", "где купить книгу?" и "в каком книжном интернет-магазине нужная книга стоит дешевле?", то наш сайт именно для Вас. На сайте книжной поисковой системы Книгопоиск Вы можете узнать наличие книги Альфорд Т., Майер Д., Фельдман Л., Фундаментальные основы анализа нанопленок в интернет-магазинах. Также Вы можете перейти на страницу понравившегося интернет-магазина и купить книгу на сайте магазина. Учтите, что стоимость товара и его наличие в нашей поисковой системе и на сайте интернет-магазина книг может отличаться, в виду задержки обновления информации.