Информация о книге

0123705975

Главная  » Научно-техническая литература » Информационные технологии. Компьютеры » Основы информационных технологий » Научно-популярная литература » VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon)

Wang L., Wen X., Wu C., VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon)

2006 г., 808 стр., 0123705975


Описание книги

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides for Chapters 1-5 and exercise solutions for Chapters 1, 2, 3 & 5 are available now. Lecture slides and exercise solutions for the remaining chapters will be available by September 15, 2006.

Поделиться ссылкой на книгу




Об авторе

Wang L.

Wen X.

Wu C.


Последние поступления в рубрике "Научно-популярная литература "



Искусственный интеллект. От компьютеров к киборгам Искусственный интеллект. От компьютеров к киборгам Волков А.М.

Искусственный интеллект или искусный интеллектуал? Какое будущее ждет человека с учетом бурно развивающейся цифровой революции? Сможем ли мы соединить живую материю и цифровые, электронные технологии? Список вопросов всё растет, а ответы пока только......

Очерки истории кибернетики в СССР. Выпуск №31 Очерки истории кибернетики в СССР. Выпуск №31 Пихорович В.

Книга посвящена истории проекта, который специалисты сравнивали по значимости с космическим и атомным. Речь идет о проблеме использования информационных технологий в управлении экономикой, создания общегосударственной автоматизированной системы......

Очерки истории кибернетики в СССР. Выпуск №31 Очерки истории кибернетики в СССР. Выпуск №31 Пихорович В.

Книга посвящена истории проекта, который специалисты сравнивали по значимости с космическим и атомным. Речь идет о проблеме использования информационных технологий в управлении экономикой, создания общегосударственной автоматизированной системы......

Если Вы задавались вопросами "где найти книгу в интернете?", "где купить книгу?" и "в каком книжном интернет-магазине нужная книга стоит дешевле?", то наш сайт именно для Вас. На сайте книжной поисковой системы Книгопоиск Вы можете узнать наличие книги Wang L., Wen X., Wu C., VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon) в интернет-магазинах. Также Вы можете перейти на страницу понравившегося интернет-магазина и купить книгу на сайте магазина. Учтите, что стоимость товара и его наличие в нашей поисковой системе и на сайте интернет-магазина книг может отличаться, в виду задержки обновления информации.