Магазинов: 4, Цена: от 684 руб. посмотреть все

Важнейшей характеристикой микропроцессорных систем является производительность. Производительность микропроцессора линейно зависит от трех характеристик – его частоты, средней частоты на выполнение инструкций и количества инструкций в выделенной области программы. В свою очередь, эти характеристики определяются технологией изготовления, архитектурой микропроцессора, системой команд и технологией компиляции. В представленной книге рассмотрены проблемы улучшения этих характеристик, а также методы и методики проектирования высокопроизводительных вычислительных систем.Рассмотрены архитектуры микропроцессоров и коммуникационных систем, ориентированных на создание высокопроизводительных вычислительных комплексов вплоть до супер-ЭВМ. Приводится маршрут и методики проектирования микросхем.Книга предназначена для студентов старших курсов кафедр электроники и автоматики университетов, аспирантов и специалистов указанной области.

  My-Shop - 684 руб.   Буквоед - 1249 руб.   Читай-Город - 1249 руб.

  Литрес - 899 руб.

Введение......61. Основные ограничения создания высокопроизводительных микропроцессоров......81.1. Факторы снижения надежности микросхем......81.2. Проблемы повышения потребляемой мощности микросхем......91.3. Методы снижения динамического тока потребления......131.4. Синхронная и асинхронная логика
самосинхронные схемы......281.5. Ограничения
связанные с предельными технологическими нормами производства микросхем......392. Основные радиационные эффекты в микросхемах......412.1. Эффекты накопленной дозы......412.2. Одиночные сбои......472.3. Множественные сбои......492.4. Множественные сбои и биполярный эффект......502.5. Кратковременные переходные процессы......512.6. Одиночное защелкивание......522.7. Модель кратковременного переходного процесса......553. Основные методики повышения надежности микросхем......564. Тестирование и верификация микросхем......594.1. Методы функциональной верификации RTL-моделей микропроцессоров......604.2. Метод коверификации микропроцессоров......724.3. Тестирование микропроцессоров......744.4. Методы
применяемые для верификации с использованием специализированных аппаратных устройств......794.5. Валидация кристаллов микросхем......824.6. Метрики тестового (функционального) покрытия
применяемые при верификации моделей......845. Маршрут проектирования микросхем......895.1. Классификация микросхем......935.2. Маршрут разработки БМК и БК......975.3. Маршрут проектирования полузаказных БИС на БМК и БК......985.4. Маршрут проектирования заказных схем......995.5. Разработка полностью заказных узлов......1106. Архитектура микропроцессоров......1186.1. Расположение и порядок битов и байтов......1186.2. Синхронизация асинхронных сигналов......1216.3. Производительность вычислительных систем......1236.4. Классификация микропроцессоров......1246.5. CISC-процессоры......1266.6. RISC-процессоры......1266.7. VLIW- и EPIC-процессоры......1317. Организация подсистемы памяти......1347.1. Методы доступа к памяти......1347.2. Иерархия подсистемы памяти......1367.3. Полностью ассоциативная кеш-память......1407.4. Индикаторы состояния строки......1447.5. Кеш-память с прямым отображением памяти......1467.6. Кеш-память
ассоциативная по множеству......1487.7. Многопортовость кеш-памяти......1497.8. Когерентность системы памяти......1517.9. TLB и виртуальная память......1538. Основные архитектуры параллельных ЭВМ......1568.1. Симметричные мультипроцессорные системы......1578.2. Системы с неоднородным доступом к памяти......1578.3. Системы с массовым параллелизмом......1588.4. Кластерные системы......1608.5. Неоднородные системы......1618.6. Программное обеспечение параллельных компьютеров......1629. Компьютерные сети......1689.1. Классификация компьютерных сетей......1699.2. Основные типы топологий сетей......1749.3. Протоколы локальных вычислительных сетей......1819.4. Основные типы коммуникационных сред......209Заключение......253Литература......255