В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов. 2-е издание.

Допущено УМО высших учебных заведений Российской Федерации по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий.

Список основных сокращений
ВВЕДЕНИЕ
Библиографический список
Глава 1. ДЕФЕКТЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ
МЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
Библиографический список
Глава 2. ОПТИЧЕСКАЯ МЕТАЛЛОГРАФИЯ
2.1. Разрешающая способность и увеличение
металлографического микроскопа
2.2. Дефекты изображения при работе на
металлографическом микроскопе
2.3. Объективы и окуляры для
металлографических микроскопов
2.4. Основные методы микроскопического
исследования
2.5. Основные типы металлографических
микроскопов
Библиографический список
Глава 3. ТРАНСМИССИОННАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ
МИКРОСКОПИЯ
3.1. Взаимодействие электронов с веществом
3.2. Устройство микроскопа
3.3. Увеличение и разрешение просвечивающих
электронных микроскопов
3.4. Контраст и формирование изображения
3.5. Рассеяние электронов веществом.
Образование дифракционной картины в
электронном микроскопе
Библиографический список
Глава 4. РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
4.1. Введение
4.2. Подготовка образцов для исследования на
растровом электронном микроскопе
4.3. Особенности растрового электронного
микроскопа
Библиографический список
Глава 5. СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ
МИКРОСКОПИЯ
5.1. Сканирующая туннельная микроскопия
5.2. Атомно-силовая микроскопия
5.3. Зонды для туннельной и атомно-силовой
микроскопии
5.4. Перемещение пьезосканеров
5.5. Устранение помех при работе зондовых
микроскопов
5.6. Перспективы развития сканирующей зондовой
микроскопии
Библиографический список
Глава 6. РЕНТГЕНОВСКИЙ МЕТОД КОНТРОЛЯ
КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ
6.1. Основные сведения о рентгеновских лучах
6.1.1. Введение
6.1.2. Возникновение и природа рентгеновских
лучей
6.1.3. Сплошной спектр рентгеновского излучения
6.1.4. Характеристическое рентгеновское
излучение
6.1.5. Поглощение рентгеновского излучения.
Фильтры излучения
6.1.6. Дифракция рентгеновских лучей
6.2. Рентгеновская аппаратура. Регистрация
рентиеновских лучей и измерение их интенсивности
6.3. Индицирование рентгенограмм
Глава 7. РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ
Библиографический список
Глава 8. АТОМНЫЙ СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
8.1. Введение
8.2. Представление о природе света. Свойства
света
8.3. Строение атома. Эмиссионные спектры атомов
8.4. Источники света для приборов атомного
спектрального анализа
8.5. Спектральные приборы
8.6. Регистрация спектров
8.7. Атомно-эмиссионный спектральный анализ
8.7.1. Спектрографический анализ
8.7.2. Спектроскопический (визуальный
спектральный) анализ
8.7.3. Спектрометрический анализ
8.7.4. Современные тенденции развития
российского оборудования для
атомно-спектрального анализа
8.8. Атомно-абсорбционный спектральный анализ
8.9. Атомно-флуоресцентный спектральный анализ
Библиографический список
Глава 9. МЕТОДЫ АКУСТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ
КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ
9.1. Акустические волны и их распространение
9.2. Излучение и прием акустических волн
9.3. Основные методы акустического контроля
качества
Библиографический список
Глава 10. РАДИАЦИОННЫЙ КОНТРОЛЬ
Библиографический список