Анцыферов С.С., Афанасьев М.Б., Сигов А.С., Метрологическое обеспечение наукоемких технологий
2016 г., 224 стр., 978-5-7974-0517-7
Наличие в интернет-магазинах
Описание книги
Книга предназначена для широкого круга читателей: студентов, аспирантов, преподавателей вузов, исследователей и специалистов.
Купить эту книгу можно в интернет-магазинах
Поделиться ссылкой на книгу
Содержание книги
ВВЕДЕНИЕ
1. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ
НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ ПРОДУКЦИИ
1.1. Предварительные сведения
1.2. Научная основа метрологического обеспечения
1.2.1. Моделирование как основа построения
метрологического обеспечения
1.2.2. Установление типа шкалы измерения
1.2.3. Установление вида системы единиц
измерения физических величин
1.2.4. Воспроизведение и передача размеров
единиц и шкал измерения физических величин
1.3. Техническая основа метрологического
обеспечения
1.3.1. Система государственных эталонов
1.3.2. Система передачи размеров единиц ФВ
средствам измерения
1.3.3. Средства измерения
1.3.4. Система испытаний, калибровки и поверки
СИ
1.3.5. Система стандартных образцов состава и
свойств веществ и материалов
1.3.6. Система стандартных справочных данных о
физических константах и свойствах веществ и
материалов
1.4. Нормативная основа метрологического
обеспечения
1.5. Организационная основа метрологического
обеспечения
2. NBIC - ВЫСОКИЕ ТЕХНОЛОГИИ XXI ВЕКА
2.1. Нанотехнологии
2.1.1. Общие сведения
2.1.2. Нанотехнологическая продукция
2.1.3. Перспективные направления развития
нанотехнологии в зарубежных странах
2.1.4. Направления развития нанотехнологии в
России
2.2. Биотехнологии
2.2.1. Общие сведения
2.2.2. Нанобиотехнологии: повышение физических
возможностей человека
2.2.3. Биоинформатика
2.3. Информационные технологии
2.3.1. Общие сведения
2.3.2. Квантовые компьютеры
2.4. Когнитивные технологии
2.4.1. Определение когнитивных технологий
2.4.2. BCI-технологии
2.4.3. Технологии искусственного интеллекта
3. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
НАНОТЕХНОЛОГИИ
3.1. Нанометрология
3.2. Техническая основа нанометрологии
3.2.1. Электронная микроскопия
3.2.2. Сканирующая зондовая микроскопия
3.2.3. Метрологическое обеспечение линейных
измерений
3.2.4. Оптико-спектральные методы
3.2.5. Дифракционные методы
3.2.6. Метрологическое обеспечение измерений
параметров наночастиц
3.3. Нормативно-методическая основа
метрологического обеспечения нанотехнологии
3.4. Организационная основа
4. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
БИОТЕХНОЛОГИЙ
4.1. Биометрология
4.2. Техническая основа биометрологии
4.2.1. Микроскопия
4.2.2. Спектроскопия
4.3. Нормативно-методическая основа
4.4. Организационная основа
5. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ
5.1. Квантовая метрология
5.2. Техническая основа
5.3. Нормативно-методическая основа
5.4. Организационная основа
6. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
КОГНИТИВНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ
6.1. Теоретическая основа
6.2. Методическая основа
6.3. Организационная основа
Литература
Об авторе
Последние поступления в рубрике "Тематика определяется"
Математика. Подготовка к ЕГЭ. Задачи с параметрами.10-11 классы
В предлагаемом пособии представлен обширный материал, посвященный двум заключительным и сложным темам ЕГЭ профильного уровня: задачам с параметрами и числам и их свойствам. На многочисленных примерах с подробными решениями и обоснованиями (как и требуется на экзамене) показаны различные методы и решения задач.... | |
План счетов бухгалтерского учета с последними изменениями
Читателю предлагается самая последняя редакция Плана счетов бухгалтерского учета финансово-хозяйственной деятельности организаций и инструкции по его применению с учетом последних приказов Минфина РФ. План счетов - это важнейший инструмент бухгалтерского учета, настольная книга для каждого практического бухгалтера.... | |
На ферме. Книжка с наклейками
Игры с наклейками - занятие не только интересное, но и полезное. С этой книгой малыш познакомится с различными видами транспорта, потренируется решать простые логические задачки и находить соответствия.... |
Если Вы задавались вопросами "где найти книгу в интернете?", "где купить книгу?" и "в каком книжном интернет-магазине нужная книга стоит дешевле?", то наш сайт именно для Вас. На сайте книжной поисковой системы Книгопоиск Вы можете узнать наличие книги Анцыферов С.С., Афанасьев М.Б., Сигов А.С., Метрологическое обеспечение наукоемких технологий в интернет-магазинах. Также Вы можете перейти на страницу понравившегося интернет-магазина и купить книгу на сайте магазина. Учтите, что стоимость товара и его наличие в нашей поисковой системе и на сайте интернет-магазина книг может отличаться, в виду задержки обновления информации.