Магазинов: 1, Цена: от 1202 руб. посмотреть все

Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в...

  My-Shop - 1202 руб.

Предисловие Г.И. Элькинн, В.Н Крутиков, Г.В.
Панкина
Введение Г.И. Элькинн, В.Н. Крутиков
Раздел 1. Обеспечение единства измерений в
Российской Федерации
1.1. Законодательство Российской Федерации в
области обеспечения единства измерений В.Н.
Крутиков,
НЮ. Новиков
1.2. Современное состояние системы обеспечения
единства измерений в Российской Федерации В.Н.
Крутиков, В.М. Лахов
1.3. Основные положения "Стратегии обеспечения
единства измерений в России до 2015 года" Г.И.
Элькин, В.Н. Крутиков, С.А. Кононогов, В.М. Лахов
Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере
нанотехнологий, наноматериалов и продукции
наноиндустрии
2.1. Основные тенденции развития нанотехнологий
за рубежом С.Н Мазуренко, В.Н. Крутиков
2.2. Основные направления развития
нанотехнологий и наноиндустрии в Российской
Федерации
С.Н. Мазуренко, В.В. Качак, А.Г. Савченко, О.Д.
Анашина
2.3. Формирование нанотехнологической сети
в Российской Федерации СИ. Мазуренко, В. В.
Качак,
А.Г. Савченко, ОД. Машина
2.4. Аналитический обзор состояния
метрологического обеспечения и стандартизации в
области нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М.
Золотаревский,
СЕ. Андрюшечкин
2.5. О "Концепции обеспечения единства
измерений, стандартизации, оценки соответствия и
безопасности использования нанотехнологий,
наноматериалов
и продукции наноиндустрии в Российской
Федерации
до 2015 года" Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, В.М.
Лахов,
С.А. Кононогов, Ю.М. Золотаревский
2.6. Формирование инфраструктуры Центра
метрологического обеспечения и оценки
соответствия нанотехнологий и продукции
наноиндустрии
В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, B.C. Иванов, В.В.
Окрепилов,
Ю.М. Золотаревский, Ф.В. Булыгин, В.Л.
Лясковский,
А.С. Гусев, В.А.Демин
2.7. Метрологический центр "РОСНАНО" B.C.
Иванов
Раздел 3. Методы и средства метрологического
обеспечения исследований нанотехнологий и
оценки соответствия продукции наноиндустрии
3.1. Термины, определения и классификация
объектов нанотехнологий и продукции
наноиндустрии
В.Н. Крутиков, В.В. Окрепилов, П.А. Тодуа
3.2. Методы и средства измерений в сфере
нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М.
Золотаревский, А.Ф. Котюк
3.3. Методики и средства измерений линейных
размеров
в нанометровом диапазоне В.М. Лахов, П.А. Тодуа
3.4. Оптико-спектральные методы характеризации
наночастицАД Левин, Е.М. Рукин
3.5. Метрологическое обеспечение нанотехнологий
В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, B.C. Иванов, А.Ф.
Котюк,
Ф.В. Булыгин
3.6. Хроматографические методы анализа и их
применение в наноиндустрии В.В. Бражников
Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического
обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции
наноиндустрии
4.1. Введение В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, С.А.
Кононогов,
В. С. Иванов
4.2. Метрологическое обеспечение оптических
характеристик излучателей на основе
полупроводниковых многослойных наноразмерных
гстсроструктур (светодиодов) Т.Е. Горшкова,
С.С. Широков, В.Н. Саприцкий
4.3. Метрологическое обеспечение характеристик
солнечных батарей на основе нанотехнологий
СП. Морозова, Б.Б. Хлевной, В.И. Саприцкий, B.C.
Иванов, Ю.М. Золотаревский
4.4. Метрологическое обеспечение технологий
формирования многослойных наноструктур
на основе использования синхротронного
излучения
СИ. Аневский, B.C. Иванов, Ю.М. Золотаревский,
В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, О.А. Минаева, Р.В.
Минаев
4.5. Метрологическое обеспечение
нанотехнологий адресной доставки лекарств А.Д.
Левин, Е.М. Рукин
4.6. Метрологическое обеспечение оптических
постоянных наноструктурированных материалов
ГГ. Левин, А.В. Демин, ПК Кашкаров, В.И. Панов,
А.А. Федянин, СВ. Заботнов, Л.А. Головань
4.7. Разработка системы метрологического
обеспечения измерений термохимических
параметров нанопорошков металлов Г. В. Шувалов,
Л.П. Ильин,
И.В. Клековкин, А.В. Коршунов, Л. О. Толбанова
4.8. Метрологическое обеспечение параметров
рельефа и шероховатости поверхности в
нанометровом диапазоне методами
интерферометрии высокого разрешения С.А.
Кононогов, СЮ. Золотаревскии,
В. Г. Лысенко
Заключение
Список основных сокращений